芯片&外壳检测
1.外壳检测
测量需求
• 功率端子位置
• PIN针的位置和高度
• 注塑柱子位置
• 螺丝安装孔位置
测量难点
• PIN针不规律,且有一定活动余量
• 不同产品存在位置差异,无法自动测量
解决方案
• OPTIV CLASSIC 683+CCD+CWS:CCD视觉定位,CWS高度测量
2.芯片检测
测量需求
• 正面测量:PIN针顶端的中心点位置和高度
• 反面测量:平面度
测量难点
• PIN针不规律,顶端不平,有不同的角度,且有一定活动余量
• 不同产品存在位置差异大,自动测量困难
• 平面度非直接算出,需要增加计算器间接算出值
解决方案
• 机型配置:OPTIV ADVANCE+CWS+Metus
• 光学定位,通过方槽自动抓取功能,自动找出最中心点,CWS测量高度
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